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调整聚焦的高度测量-德国西克SICK传感器

发布日期:2024-12-20 16:42:07阅读次数:字号:

调整聚焦的高度测量-德国西克SICK传感器

 

生产半导体或显示屏的过程中,高精度检查和激光系统需要高度准确的聚焦光学系统。短程距离传感器 OD5000 可以测量每秒至 80,000 次基座的微米精度高度轮廓。这些数据可以控制聚焦位置,从而得出理想处理结果。

 

 

以下产品系列可以使用

 

OD5000系列

 

OD5000-C150W40

OD5000-C150T40

OD5000-C15W01

OD5000-C15T01

OD5000-C30W05

OD5000-C30T05

OD5000-C85W20

OD5000-C85T20

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